Den tyske virksomhed GOM, der udvikler og producerer optiske præcisionsmålesystemer, afholder den 26.-27. september konferencen GOM 3D Metrology Conference 2017, hvor eksperter, måleteknikere og ledere fra over 40 lande samles.
Temaet for arrangementet er 3D prøvning og 3D metrologi. Ved konferencen vil internationale virksomheder som Audi, GE Applications og Sandvik dele deres erfaringer med teknologien. På talerstolen er også det danske universitet DTU repræsenteret, hvor Rasmus Eriksen vil fortælle om deformationsmålinger af strukturer på tubineblade fra vindmøller.
Desuden vil GOM præsentere de seneste tendenser og nyeste udvikling inden for scanningsteknologi og software.
Metrologikonferencen, som sidste gang tiltrak 650 besøgende, har igen i år stor dansk opbakning.
– GOM 3D Metrology Conference har altid været et virkelig godt arrangement, som samler brugere af målesystemer, siger Christian Berggren, associate professor på DTU.
Han har deltaget i konferencen flere gange og er glad for konceptet, hvor teknisk vidensdeling og networking kombineres. Det er en konference med mange interessante indlæg fra både GOM, lokale distributører og brugerne selv. Samtidig er der en mulighed for at tale med eksperterne om ens egne interesseområder og eventuelle udfordringer.
Den danske distributør af GOM målesystemer, Zebicon, deltager ved konferencen, og inviterer metrologiinteresserede til at tage med til det gratis arrangement. Konferencen finder sted i Braunschweig, i GOMs nye domicil, hvor der også vil være mulighed for at få en guidet rundvisning og få indblik i produktionen af måleteknisk udstyr.
Zebicon a/s
Tlf. 76 50 91 52