Pickering Electronics annoncerer tilgængeligheden af sin testserie af undervisnings applikationsguides for ingeniører, der konstruerer ATE (automatic test equipment) samt test & måle (T&M) systemer med titlen: ‘5 Reasons Why Reed Relays are Ideal for Semiconductor Testing’. Denne omfattende applikationsguide er sammensat af ledende industrieksperter, der forklarer om den kritiske rolle i brugen af reed-relæer inden for halvledertests, især under waferprobe-tests. Guiden giver indblik i brugen af reed-relæer i halvleder ATE-applikationer inklusive Pickerings fem vigtigste grunde til, at reed-relæer er den ideelle switching-teknologi til halvledertests.
Efter at halvleder-waferne er fremstillet – men før ”slicing and dicing” til de endelige chips, der skal kapsles til komponenter – underkastes de waferprobe-tests. Disse kritiske elektriske og funktionelle tests udføres af waferprobe-maskiner, en type automatisk testudstyr (ATE), der bruges til at verificere funktionaliteten af de enkelte chips – hvad enten det drejer sig om relativt simple strukturer, såsom dioder og transistorer, eller mere komplekse integrerede kredsløb (IC’er) som processorer, mikrocontrollere, memories eller analog-/digital-konvertere (ADC’er). Disse tests skal identificere eventuelle defekter tidligt, bekræfte funktionaliteten og sikre kvaliteten af chips, før de pakkes og bruges i elektroniske produkter, og disse tests bidrager til at forbedre yiels af halvlederproduktionen.
Proberne bevæges rundt på waferen og forbindes til pads på overfladen af de individuelle chips med påtrykning af testsignaler (spændinger, strømme eller waveforms) fra ATE’en, hvorefter de enkelte chips leverer den spænding, strøm eller kurveform på output, som ATE’en skal registrere. Halvledertestmetoder omfatter DC-parametrisk test (ved forskellige niveauer af strøm og spænding) og AC-parametrisk test (ved forskellige frekvenser) – begge for at sikre, at komponenten opfylder de krævede specifikationer – ligesom funktionel test skal sikre, at de enkelte chips fungerer som tilsigtet. I effekthalvlederkomponenter er det nødvendigt at anvende og registrere høje spændinger, og i højfrekvens-/radiofrekvenskomponenter (HF/RF) er det nødvendigt at anvende og registrere egnede waveforms.
– Alt i alt betyder dét, at ATE’n skal kunne påtrykke en lang række testforhold”. Probestationer har dog typisk kun nogle få prober (to er ret almindeligt), so ATE’n skal kunne skifte mellem multiple testforhold og -signaler og kanalisere testresultaterne hen til de dertil indrettes signalbehandlingskredsløb. Det er så hér, at reed-relæer – som styrede switching-elementer – viser deres høje værdi. Pickerings applikationsguide forklarer de fem vigtigste grunde til, at reed-relæer er den ideelle switching-teknologi til halvledertests, siger Robert King, Reed Relays Product Manager at Pickering Electronics
Download den gratis guide i dag og se, hvad Pickerings ekspertert giver af indblik og anbefalinger i valget af de rigtige relæteknologier til specifikke behov – og se hvorfor især reed-relæer er de den ideelle switching-teknologi til halvledertests.
