Kitron har investeret i et nyt Waygate Technologies Microme|x 160 X-ray-system fra EP-TeQ A/S. Waygate Technologies’ Microme|x 160 X-ray system er en avanceret røntgenløsning til inspektion og kvalitetskontrol af komplekse elektroniske komponenter og printkort (PCBAs). Dette system muliggør præcis, ikke-destruktiv inspektion, hvilket gør det nemt at opdage og diagnosticere fejl som fx processkred, lodde- og materialefejl, der kan påvirke produkternes funktionalitet og pålidelighed.
– Investeringen i Microme|x 160-systemet fra Waygate Technologies er et vigtigt skridt i vores strategi om at styrke vores position som en førende leverandør af højkvalitetselektronik til krævende industrier som medico, forsvar og connectivity. Vi arbejder konstant på at forbedre vores processer og sikre, at vi kan levere produkter af den højeste standard til vores kunder. Med dette avancerede røntgensystem kan vi foretage præcis og ikke-destruktiv inspektion, hvilket gør det muligt for os at identificere selv de mindste fejl tidligt i produktionsprocessen. Dette reducerer risikoen for fejl og forbedrer pålideligheden af vores løsninger, siger Bo Aktor Nielsen, Senior Process Engineer hos Kitron.
Microme|x 160 er designet til at levere en imponerende høj opløsning og detaljegrad ved inspektion af simple såvel som komplekse printkort og små komponenter. Systemet tilbyder avancerede muligheder som CT-skanning og 3D-visualisering, der yderligere forbedrer analysemulighederne og gør det muligt at opdage selv skjulte fejl. Dette gør det til en ideel løsning for Kitron, der producerer elektronik til bl.a. medico, industri og forsvar.
– Med valget af Microme|x 160 fra Waygate Technologies kan Kitron nu opnå/bevise en kvalitetssikringsstandard, der opfylder selv de strengeste krav i industrien. Vi er stolte af at levere en avanceret inspektionsteknologi, der giver Kitron mulighed for en høj detaljegrad og præcision i deres kvalitetskontrol. Med denne løsning kan Kitron sikre produkternes pålidelighed og reducere risikoen for fejl, som ellers kunne opdages sent i produktets livscyklus. Vi ser frem til samarbejdet og til at understøtte Kitron i deres fortsatte vækst og kvalitetsudvikling, fortæller Michael Vester, direktør/Partner i EP-TeQ.
Microme|x 160 muliggør identificering og analyse af selv de mindste fejl, hvilket giver et solidt grundlag for at levere produkter af højeste kvalitet. Systemet understøtter også en harmonisering af inspektionskapaciteten på tværs af produktionsfaciliteterne, hvilket sikrer ensartet support og kvalitet til kunderne i hele Norden og Baltikum.
Kontakt: http://www.ep-teq.com
