CGD først til at inkludere individuelle GaN-chip 2D-stregkoder, som kan læses med en kommerciel stregkodelæser, hvilket letter identifikation og sporbarhed af IC’er under og efter fremstillingsprocesserne
Cambridge GaN Devices (CGD) beviser igen sin dedikation til innovation med en “industriens første”: Individuelle 2D-stregkoder på GaN IC’erne, som kan aflæses af kommercielt tilgængelige stregkodelæsere. Det gør ikke bare CGD I stand til at scanne kapslede komponenter for identifikation af såvel kredsløb som batch, men kan også præcist fortælle, hvor komponenten var på waferen under fremstilling. Det giver vitale data, der fører til optimering af såvel robusthed som pålidelighed.
– Vi har udviklet de individuelle 2D-stregkoder sammen med vores kapslings-team for at give os en komplet kontrol over fremstillingsprocessen og gribe ind over for pålidelighedsproblemer tidligt og præcist. Vi ved jo, at yield er lavest for dies tæt på waferens kant, og vi kan nu påvise, hvordan placeringen af en die på waferen påvirker den enkelte komponents ydelse. De informationer kan vi give som feedback til vores foundries for en kontinuert forbedring af fremstilingsprocesserne, siger Zahid Ansari, vicedirektør for drifte hos CGD.
Muligheden for øjeblikkelig identifikation af en komponent med en prisbillig og effektiv stregkodelæser har også stor betydning, når man vil foregribe forfalskede komponenter på markedet. Det har stor betydning i navnligt hi-rel applikationer.
– Selv om vi har adgang til store datamængder for at dokumentere robustheden og pålideligheden af vores ICeGaN™ HEMTs, så er GaN fortsat er relativt ny teknologi især sammenlignet med traditionelle siliciummetoder inden for effektelektronikken. Ved at tilføje 2D-stregkoder kan vi ekstremt hurtigt give returmeldinger til vores produktions supply-chain, hvilket både styrker vores samarbejde og letter opskalering til high-volume produktion, tilføjer Giorgia Longobardi, CEO for CGD.
For flere oplysninger: http://www.camgandevices.com
