Nikon Metrologys nyeste højpræcise røntgen-inspektionssystem, XTV 160 NF, giver en fremragende real-time billedgengivelse til analyse af defekter på wafere for den næste generation af halvledere og print. Nikons teknologisk førende prøvningssystem er baseret på virksomhedens eget nanofokusrør og en præcisionsmanipulator. Dermed giver XTV 160 NF en hidtil uset ydelse inden for røntgeninspektion af elektronikkomponenter.
XTV 160 NF er baseret på en brændvidde i nanometer-området og overfladedetektor på 3Mpixels, hvilket giver mulighed for at se billeder af gennemlyste emner i en størrelse helt ned til 0,1µm.
Inspektionssystemet har en 360 graders detektorakse og kann kippes helt op til 60 grader i forhold til detektor-midteraksen. Samtidigt er der en intelligent manipulatorfunktion, der sikrer, at det aktuelle emne forbliver i fokus, uanset om vinkling eller forstørrelsesgrad ændrer sig.
En objektholder på 580mm x 580mm går det muligt at inspicere selv meget store print med flere komponenter eller kredsløb.
Nikon T&M
Web: http://www.nikonmetrology.com
